Корзина
15 отзывов
Контакты
ООО "НПП "Академприбор"
+38066063-21-12
Игорь Николаевич Тысячник
УкраинаСумская областьСумыул. Курская,147
Карта

Растровый электронный микроскоп РЭМ-2000

Растровый электронный микроскоп РЭМ-2000
Растровый электронный микроскоп РЭМ-2000, фото 2
  • Под заказ

Цену уточняйте

Растровый электронный микроскоп РЭМ-2000
Цену уточняйте
Под заказРастровый электронный микроскоп РЭМ-2000
+38066063-21-12
+38066063-21-12
  • Адрес и контакты

Электронный микроскоп с камерой низкого вакуума РЭМ-2000 предназначен для исследования микрорельефа и элементного состава массивных объектов в твердой фазе.

Комплектность и технические характеристики

1 Электронно-оптическая система

Электронная пушка: вольфрамовый катод V-образного типа, возможность ручной и электромагнитной юстировки.
Трехлинзовая оптическая система: двухступенчатый конденсор, 45-градусная коническая объективная мини-линза, уменьшающая аберрации.
Устройство для установки и смены апертурной диафрагмы, два комплекта апертурных диафрагм для микроанализа (0.2 и 0.14, 0.12 и 0.08 мм).
Раздельная откачка колонны и камеры объектов на высокий вакуум.

Автоматическая установка напряжения смещения на цилиндре Венельта при изменения ускоряющего напряжения.
Разрешающая способность в режиме изображения во вторичных электронах 5 нм.
Диапазон регулировки ускоряющего напряжения от 0.2 до 5 кВ с шагом 50 В, от 5 до 40 кВ с шагом 1 кВ.
Диапазон регулировки увеличения от 5 до 300 000 крат.

2 Камера и механизм перемещения объектов

Большая камера объектов 296х360х273 мм3. Порт для установки спектрометра ЭДС и два порта для установки спектрометра ВДС.
Максимальный диаметр образца 100 мм. Диаметр шлюзуемого объекта 70 мм и высота 40 мм.
Три моторизированных осей перемещения(X, Y, Z).
Перемещение по оси Х – 100 мм, Y – 150 мм, Z – 60 мм,
Вращение 360°,
Наклон от минус 5° до 90°.
Универсальный держатель объектов, комплект специальных объектодержателей для различных по форме образцов. Карусельный держатель объектов для шести образцов диаметром 10 мм каждый.
Управление перемещением объектов с помощью jojstick и клавиатуры.

3 Детекторы

Детектор вторичных электронов (Э-Т), полупроводниковый парный детектор отраженных электронов, спектрометры ВДС и ЭДС.
Режимы получения изображения: ВЭ, ОЭ, ТОРО, СОМРО, X-RAY.

4 Система получения, накопления и обработки изображения

Программное управление режимами работы прибора, получением и накоплением изображения. Специализированные кнопки и ручки для установки увеличения, контраста, яркости, фокуса, стигматора.
Динамическое стигмирование, компенсация изменения увеличения при изменении ускоряющего напряжения и рабочего расстояния, компенсация поворота изображения при изменении положения образца.
Режим «малого поля» на экране монитора.
Электронный поворот растра.
Перемещение растра 30 мкм.
Осциллографический режим.
Обработка изображения: гамма-коррекция, деление экрана, электронный маркер, индикация линейных размеров объекта.
Отображение на экране параметров работы: ускоряющего напряжения, увеличения, рабочего расстояния, масштабной метки, токов линз, тока зонда и др.
Управляющий компьютер:
Pentium Dual-Core E2200(2.2 Ghz)
DDR II 2048MB PC2-6400 (800MHz)
SATA 320GB 7200rpm
DVD+-RW

Формат изображения в памяти компьютера 2048х2048,

формат изображения на экране 1280х1024.

5 Система рентгеновского микроанализа

Cпектрометр энергетической дисперсии и устройство управления и измерения.
Интегрированное управление системой микроанализа. Устройство управления и измерения обеспечивает управление спектрометром энергетической дисперсии, сбор, первичную обработку рентгеновской информации и передачу ее посредством интерфейса в устройство вычислительное.
Рабочее расстояние для микроанализа 25 мм.
Программное обеспечение системы микроанализа:
– программа управления спектрометром,
– программа выполнения качественного микроанализа спектрометром ED с KLM-маркером и идентификацией пиков,
– программа выполнения количественного микроанализа (ZAF-коррекция) спектрометром ED,
– программы получения распределения элементов по линии и по площади (с разделением наложенных пиков, до 8 пиков).
Универсальный набор эталонов (45 шт.) для проведения количественного микроанализа и набор тестовых образцов для калибровки шкалы энергий спектрометров ED, тестирования режима количественного микроанализа.

Энерго-дисперсионный спектрометр

Угол установки детектора ЭДС по отношению к образцу 40°.
Si-Li детектор толщиной 3,5 мм и активной площадью 12,5 мм2.
Полимерное сверхультратонкое окно детектора.
Энергетическое разрешение детектора на линии Mn K -139 эВ.
Диапазон анализируемых элементов спектрометром энергетической дисперсии от бора (5) до урана (92).

Возможности комплекса могут быть расширены благодаря дополнительной установке системы рентгеновского микроанализа

Характеристики
Основные
Производитель  Собственное производство
Страна производительУкраина
Дополнительные характеристики
Тип электронной пушкивольфрамовый катод V-образного типа, возможность ручной и электромагнитной юстировки
Тип оптической системыТрехлинзовая оптическая система
Разрешающая способность в режиме изображения во вторичных электронах , нм5
Диапазон регулировки ускоряющего напряженияот 0.2 до 5 кВ с шагом 50 В, от 5 до 40 кВ с шагом 1 кВ
Диапазон регулировки увеличенияот 5 до 300 000 крат
Максимальный диаметр образца100 мм
Перемещение по осямХ - 100 мм, Y - 150 мм, Z - 60 мм
Вращение360°
Наклонот минус 5° до 90°
Система получения, накопления и обработки изображенияесть
Система рентгеновского микроанализаесть
Спектрометр волновой дисперсиинет
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре