Корзина
15 отзывов
Растровый электронный микроскоп РЭМ-2000
Контакты
ООО "НПП "Академприбор"
+38066063-21-12
Игорь Николаевич Тысячник
УкраинаСумская областьСумыул. Курская,147
Карта

Растровый электронный микроскоп РЭМ-2000

  • Под заказ

Цену уточняйте

Цену уточняйте
Под заказРастровый электронный микроскоп РЭМ-2000
+38066063-21-12
+38066063-21-12
  • Адрес и контакты

Электронный микроскоп с камерой низкого вакуума РЭМ-2000 предназначен для исследования микрорельефа и элементного состава массивных объектов в твердой фазе.

Комплектность и технические характеристики

1 Электронно-оптическая система

Электронная пушка: вольфрамовый катод V-образного типа, возможность ручной и электромагнитной юстировки.
Трехлинзовая оптическая система: двухступенчатый конденсор, 45-градусная коническая объективная мини-линза, уменьшающая аберрации.
Устройство для установки и смены апертурной диафрагмы, два комплекта апертурных диафрагм для микроанализа (0.2 и 0.14, 0.12 и 0.08 мм).
Раздельная откачка колонны и камеры объектов на высокий вакуум.

Автоматическая установка напряжения смещения на цилиндре Венельта при изменения ускоряющего напряжения.
Разрешающая способность в режиме изображения во вторичных электронах 5 нм.
Диапазон регулировки ускоряющего напряжения от 0.2 до 5 кВ с шагом 50 В, от 5 до 40 кВ с шагом 1 кВ.
Диапазон регулировки увеличения от 5 до 300 000 крат.

2 Камера и механизм перемещения объектов

Большая камера объектов 296х360х273 мм3. Порт для установки спектрометра ЭДС и два порта для установки спектрометра ВДС.
Максимальный диаметр образца 100 мм. Диаметр шлюзуемого объекта 70 мм и высота 40 мм.
Три моторизированных осей перемещения(X, Y, Z).
Перемещение по оси Х – 100 мм, Y – 150 мм, Z – 60 мм,
Вращение 360°,
Наклон от минус 5° до 90°.
Универсальный держатель объектов, комплект специальных объектодержателей для различных по форме образцов. Карусельный держатель объектов для шести образцов диаметром 10 мм каждый.
Управление перемещением объектов с помощью jojstick и клавиатуры.

3 Детекторы

Детектор вторичных электронов (Э-Т), полупроводниковый парный детектор отраженных электронов, спектрометры ВДС и ЭДС.
Режимы получения изображения: ВЭ, ОЭ, ТОРО, СОМРО, X-RAY.

4 Система получения, накопления и обработки изображения

Программное управление режимами работы прибора, получением и накоплением изображения. Специализированные кнопки и ручки для установки увеличения, контраста, яркости, фокуса, стигматора.
Динамическое стигмирование, компенсация изменения увеличения при изменении ускоряющего напряжения и рабочего расстояния, компенсация поворота изображения при изменении положения образца.
Режим «малого поля» на экране монитора.
Электронный поворот растра.
Перемещение растра 30 мкм.
Осциллографический режим.
Обработка изображения: гамма-коррекция, деление экрана, электронный маркер, индикация линейных размеров объекта.
Отображение на экране параметров работы: ускоряющего напряжения, увеличения, рабочего расстояния, масштабной метки, токов линз, тока зонда и др.
Управляющий компьютер:
Pentium Dual-Core E2200(2.2 Ghz)
DDR II 2048MB PC2-6400 (800MHz)
SATA 320GB 7200rpm
DVD+-RW

Формат изображения в памяти компьютера 2048х2048,

формат изображения на экране 1280х1024.

5 Система рентгеновского микроанализа

Cпектрометр энергетической дисперсии и устройство управления и измерения.
Интегрированное управление системой микроанализа. Устройство управления и измерения обеспечивает управление спектрометром энергетической дисперсии, сбор, первичную обработку рентгеновской информации и передачу ее посредством интерфейса в устройство вычислительное.
Рабочее расстояние для микроанализа 25 мм.
Программное обеспечение системы микроанализа:
– программа управления спектрометром,
– программа выполнения качественного микроанализа спектрометром ED с KLM-маркером и идентификацией пиков,
– программа выполнения количественного микроанализа (ZAF-коррекция) спектрометром ED,
– программы получения распределения элементов по линии и по площади (с разделением наложенных пиков, до 8 пиков).
Универсальный набор эталонов (45 шт.) для проведения количественного микроанализа и набор тестовых образцов для калибровки шкалы энергий спектрометров ED, тестирования режима количественного микроанализа.

Энерго-дисперсионный спектрометр

Угол установки детектора ЭДС по отношению к образцу 40°.
Si-Li детектор толщиной 3,5 мм и активной площадью 12,5 мм2.
Полимерное сверхультратонкое окно детектора.
Энергетическое разрешение детектора на линии Mn K -139 эВ.
Диапазон анализируемых элементов спектрометром энергетической дисперсии от бора (5) до урана (92).

Возможности комплекса могут быть расширены благодаря дополнительной установке системы рентгеновского микроанализа

Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре