Дослідження рельєфу поверхні об'єктів в твердій фазі і для визначення елементного складу об'єктів методом рентгенівського мікроаналізу за довжинами хвиль та енергій квантів характеристичного рентгенівського випромінювання.
Область застосування: матеріалознавство, мікроелектроніка і напівпровідникові технології, металознавство, металлофизика, металургія, геологія, біологія, медицина та інші області науки і техніки.
Обладнання: Растровий електронний мікроскоп РЭММА-2000.
Область застосування: матеріалознавство, мікроелектроніка і напівпровідникові технології, металознавство, металлофизика, металургія, геологія, біологія, медицина та інші області науки і техніки.
Обладнання: Растровий електронний мікроскоп РЭММА-2000.
Характеристики
Користувальницькі характеристики | |
---|---|
Тип услуги | Услуги определения свойств материалов |
Інформація для замовлення
- Ціна: від 1 ₴